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技術(shù)文章

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帶你了解影響光譜儀性能的的一些因素光譜學(xué)測(cè)量的基礎(chǔ)是測(cè)量光輻射與波長(zhǎng)的對(duì)應(yīng)關(guān)系。一般來(lái)說(shuō)，光譜學(xué)測(cè)量的直接結(jié)果是由很多個(gè)離散的點(diǎn)構(gòu)成曲線，每個(gè)點(diǎn)的橫坐標(biāo)(X軸)是波長(zhǎng)，縱坐標(biāo)(Y軸)是在這個(gè)波長(zhǎng)處的強(qiáng)度。因此，一個(gè)光譜儀的性能，可以粗略地分為下面幾個(gè)大類(lèi)：1.波長(zhǎng)范圍波長(zhǎng)范圍是光譜儀所能測(cè)量的波長(zhǎng)區(qū)間。常見(jiàn)的光纖光譜儀的波長(zhǎng)范圍是200-1100nm，也就是可以探測(cè)紫外光、可見(jiàn)光和短波近紅外光，可以擴(kuò)展至200-2500nm，覆蓋整個(gè)紫外-可見(jiàn)-近紅外波段。光柵及探測(cè)器的類(lèi)型會(huì)影響波長(zhǎng)范圍。一般來(lái)說(shuō)，寬的波長(zhǎng)...

3-1 2018

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